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更新時(shí)間:2026-01-14
瀏覽次數(shù):315(1)為什么要保持真空?
電子束系統(tǒng)中的燈絲在普通大氣中會(huì)迅速氧化而失效,所以除了在使用 SEM 時(shí)需要用真空以外,平時(shí)還需要以純氮?dú)饣蚨栊詺怏w充滿整個(gè)真空柱。同時(shí)也可以增大電子的平均自由程,從而使得用于成像的電子更多。
電子槍的作用是利用陰極與陽(yáng)極燈絲間的高壓產(chǎn)生高能量的電子束。目前大多數(shù)掃描電鏡采用熱陰極電子槍(如鎢絲)。其優(yōu)點(diǎn)是燈絲價(jià)格較便宜,對(duì)真空度要求不高,缺點(diǎn)是鎢絲熱電子發(fā)射效率低,發(fā)射源直徑較大,即使經(jīng)過(guò)二級(jí)或三級(jí)聚光鏡,在樣品表面上的電子束斑直徑也在 5-7nm,因此儀器分辨率受到限制。而高等級(jí)掃描電鏡采用六硼化鑭(LaB6)或場(chǎng)發(fā)射電子槍(熱場(chǎng)/冷場(chǎng)),使二次電子像的分辨率達(dá)到 2nm。但這種電子槍要求很高的真空度。
試樣在電子束作用下,激發(fā)出各種信號(hào),對(duì)其中的二次電子或者背散射電子進(jìn)行收集,經(jīng)信號(hào)處理放大系統(tǒng)后,輸送到顯像管柵極以調(diào)制顯像管的亮度。試樣表面上任一點(diǎn)所收集來(lái)的信號(hào)強(qiáng)度與顯像管屏上相應(yīng)點(diǎn)亮度之間是一一對(duì)應(yīng)的。
分辨本領(lǐng)強(qiáng),主要用于表面分析;
放大倍率變化范圍大;
景深大,圖像立體感強(qiáng);
試樣制備簡(jiǎn)單;
可以通過(guò)電子學(xué)的方法有效控制和改善圖像質(zhì)量;
可以同時(shí)進(jìn)行微觀形貌觀察、微區(qū)成分分析和晶體結(jié)構(gòu)分析。
可以研究材料表面和斷面的微觀形貌(最主要);
如有配置能譜分析儀或波譜儀,可對(duì)材料的微區(qū)成分進(jìn)行定性和半定量分析(對(duì)特征X射線)
如有背散射電子衍射儀,還可以對(duì)材料的晶體結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析;
掃描電鏡的二次電子像和背散射電子像是非常重要的兩種成像模式,二次電子像的分辨率高,特別適合觀察材料的相貌(主要表面形貌程度),背散射電子像可以反映材料的成分信息(主要原子序數(shù)襯度);
為什么二次電子具有表面形貌襯度,而背散射電子具有原子序數(shù)襯度?(重要)
因?yàn)楸砻嫔隙盖吞幰约斑吘壧幐浇娮印疤右菥嚯x"更小,從而更多被收集,在屏幕上會(huì)更亮,從而具有表面形貌襯度。
而原子序數(shù)越大的原子核對(duì)電子的背散射能力越強(qiáng),背散射電子被收集到更多,在屏幕上更亮,從而具有原子序數(shù)襯度。
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