XRF 鍍層測厚儀是一種基于 X 射線熒光技術的精密測量儀器，俗稱 X 射線熒光測厚儀、膜厚儀或電鍍膜厚儀，核心功能在于?無損檢測金屬電鍍層的厚度及材料組成? 。該儀器廣泛應用于電子、半導體及五金電鍍等行業，是實現產品質量控制的關鍵設備，更多基礎信息可參考 [熒光 X 射線測厚儀。XRF 鍍層測厚儀利用 X 射線熒光分析法（EDXRF），通過微型 X 射線管發射高能射線束照射樣品，激發鍍層原子內層電子躍遷并釋放特征 X 射線熒光 。儀器通過高分辨率探測器捕獲熒光信號的能量及強度，結合基本參數法（FP 法）或標準曲線法計算出鍍層厚度 。??

1. ?無損非接觸測量?

   ：測量過程無需接觸樣品表面，不會造成劃傷或損傷，適合精密元件檢測 。

2. ?多層同步分析?

   ：支持單層、雙層及多層鍍層的同時分析，部分機型可同時測定最多 5 層鍍層及 15 種以上元素 。

3. ?自動化功能?

   ：現代儀器通常配備

   自動激光對焦

   、XYZ 全自動樣品臺及 CCD 攝像定位系統，可實現微小區域的精確觀測與批量自動測量 。??

應用電子電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器

半導體等電鍍層厚度檢測

可測試單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層厚度

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等合金鍍層：

鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等